Центр коллективного пользования
ЛАБОРАТОРИЯ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ

На кафедре ЭПУ открыта учебно-научная лаборатория электронной микроскопии (УНЛ ЭМ). Лаборатория создана на базе сканирующего электронного микроскопа Hitachi S-570, оснащенного системой микроанализа Bruker Quanax 200, детекторами вторичных и обратно-рассеянных электронов, цифровой системой формирования изображений.

В качестве источников электронов в микроскопе используется LaB6 катод, обеспечивающий высокую интенсивность электронного пучка, и, соответственно, большие объемы аналитической информации за минимальное время. Микроскоп позволяет получать изображения исследуемых объектов в диапазоне увеличений от 30 до 20 000 крат в режимах рельефа и фазового контраста (пространственное разрешение от 100 нм, фазовое разрешение от 0,01 среднего атомного номера).


Аналитический комплекс на базе сканирующего электронного микроскопа Hitachi S-570 и системы рентгеноспектрального микроанализа Bruker Quantax 200.

Система микроанализа позволяет также проводить поэлементное рентгеновское картирование (распределение элементов по выбранной площади анализа) и составлять интегральную карту распределения элементов в выбранной пользователем цветовой схеме. Минимальный диаметр области, для которой возможно проведение корректного количественного анализа – 10 мкм. Для объектов меньшего размера происходит захват окружающих фаз.

В лаборатории УНЛ ЭМ проводятся исследования микроструктуры, элементного и фазового состава природных и синтетических материалов, а также изделий, использующихся в электронной технике, химической промышленности, энергетике, медицине и других областях науки и техники.

Требования к образцам: образцы должны быть твердофазные, не деградировать в вакууме и не деградировать под интенсивным электронным пучком. Размер образцов: диаметр не более 3 см, высота не более 0,5 см. Для проведения корректного количественного анализа поверхность образцов должна быть подготовлена так же как и для металлографического анализа (шлифовка-полировка), но без последующего травления поверхности.

Приглашаем научные группы университета, а также других организаций и предприятий Санкт-Петербурга к проведению совместных исследований.



Микроструктура материалов, кристаллов и конструкционных элементов, исследованная методом сканирующей электронной микроскопии в режиме рельефа.



Микроструктура материалов, исследованная методом сканирующей электронной микроскопии в режиме фазового контраста.


Морфология биогенных объектов, исследованная методом сканирующей электронной микроскопии в режиме рельефа.


Рентгеновское элементное картирование материалов в режиме рентгеноспектрального микроанализа.

Контакты

Потрахов Николай Николаевич

Д-р техн. наук, проф.

Гук Карина Константиновна

Канд. техн. наук, доц.

 +7 (812) 234-21-59